特許
J-GLOBAL ID：201703003337089205

イオン移動度分離部を備える分析装置

発明者：
佐竹 宏之

佐竹 宏之 について

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西村 和茂

西村 和茂 について

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長谷川 英樹

長谷川 英樹 について

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杉山 益之

杉山 益之 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (3件)： 平木 祐輔 ,  関谷 三男 ,  渡辺 敏章
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-042487
公開番号（公開出願番号）：特開2017-156318
出願日： 2016年03月04日
公開日（公表日）： 2017年09月07日
要約：
【課題】イオン移動度分離部を有する分析装置に高い耐久性とロバスト性を持たせる。【解決手段】イオン源と、高周波電圧と直流電圧が印加される一対の対向する電極を備えたイオン移動度分離部と、イオン源とイオン移動度分離部との間に設けられ直流電圧が印加される遮蔽電極とを有し、遮蔽電極は、イオン源からのイオンが導入される入口とイオンが排出される出口とをつなぐイオン流路を内部に有し、イオン流路は入口から出口が見通せないように屈曲している。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
イオン源と、 高周波電圧と直流電圧が印加される一対の対向する電極を備えたイオン移動度分離部と、 前記イオン源と前記イオン移動度分離部との間に設けられ直流電圧が印加される遮蔽電極とを有し、 前記遮蔽電極は、前記イオン源からのイオンが導入される入口と前記イオンが排出される出口とをつなぐイオン流路を内部に有し、 前記イオン流路は前記入口から前記出口が見通せないように屈曲している、分析装置。
IPC (2件)：
G01N 27/62 ,  H01J 49/26
FI (3件)：
G01N27/62 102 ,  H01J49/26 ,  G01N27/62 B
Fターム (7件)：
2G041CA01 ,  2G041CA02 ,  2G041DA18 ,  2G041GA26 ,  2G041GA29 ,  2G041HA03 ,  5C038HH01
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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