特許
J-GLOBAL ID：201703003652662614
画像形成装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西脇 民雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-198014
公開番号（公開出願番号）：特開2014-052566
特許番号：特許第6056288号
出願日： 2012年09月10日
公開日（公表日）： 2014年03月20日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 像担持体と、該像担持体の表面を帯電させる帯電手段と、帯電された前記像担持体の表面に静電潜像を形成する露光手段と、前記像担持体の表面の前記静電潜像に現像剤を付着させて画像を顕像化させる現像手段と、前記像担持体の表面に顕像化された前記画像を記録材に転写させる転写手段と、前記記録材に転写された画像を定着させる定着部材を有する定着手段と、前記定着部材の表面に光スポットを照射し、その反射光を受光する反射型光学検知手段と、前記反射型光学検知手段からの検出値に基づいて、前記定着部材の表面状態を判断する表面状態判断手段と、を備えた画像形成装置であって、
前記反射型光学検知手段は、前記定着部材の移動方向と直交する主走査方向の異なる領域にN個(N≧3)の前記光スポットを順次照射する発光部と、前記定着部材からの反射光を受光し前記検出値を取得する受光部と、を有し、
N個の前記光スポットの中から、基準となるN-n個(N>n>0)の基準光スポットと、表面状態を検出するためのn個の検出用光スポットとを予め決定し、N-n個の前記基準スポットとn個の前記検出用光スポットとを順次照射するときに、各検出用光スポットを照射する一つ前または一つ後の少なくとも何れかでは、N-n個の前記基準光スポットの中から選択した前記基準光スポットを、前記検出用光スポットとの副走査方向における検出位置のずれ量がスポット径以下となる照射時間差で照射するよう構成され、
前記表面状態判断手段が、n個の各検出用光スポットからの前記検出値と、当該検出用光スポットの一つ前または一つ後に照射された前記基準光スポットからの前記検出値との比または商に基づいて、当該検出用光スポットが照射される前記領域での前記定着部材の表面状態を判断することを特徴とする画像形成装置。
IPC (3件)：
G03G 21/00 ( 200 6.01)
, G03G 15/20 ( 200 6.01)
, G01N 21/892 ( 200 6.01)
G03G 21/00 510
, G03G 15/20 510
, G01N 21/892 A
