特許
J-GLOBAL ID：201703005068220165
加硫系材料分析方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人 安富国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-092729
公開番号（公開出願番号）：特開2017-201252
出願日： 2016年05月02日
公開日（公表日）： 2017年11月09日
要約：
【課題】硫黄加硫剤、加硫促進剤等の加硫系材料を含む高分子複合材料に関し、それぞれの加硫系材料の分散状態や化学状態を観察、分析できる加硫系材料分析方法を提供する。【解決手段】1種又は2種以上の加硫系材料を含む高分子複合材料に高輝度X線を照射し、X線のエネルギーを変えながら該高分子複合材料の微小領域におけるX線吸収量を測定することにより、各加硫系材料の分散状態及び化学状態を調べる加硫系材料分析方法。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
1種又は2種以上の加硫系材料を含む高分子複合材料に高輝度X線を照射し、X線のエネルギーを変えながら該高分子複合材料の微小領域におけるX線吸収量を測定することにより、各加硫系材料の分散状態及び化学状態を調べる加硫系材料分析方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (8件)：
2G001AA01
, 2G001BA13
, 2G001CA01
, 2G001GA01
, 2G001KA01
, 2G001LA05
, 2G001NA03
, 2G001NA08
