特許
J-GLOBAL ID：201703005628963860

欠陥画素判定装置および欠陥画素判定方法

発明者：
都築 毅

都築 毅 について


出願人/特許権者：
ハンファテクウィン株式会社

ハンファテクウィン株式会社 について


代理人 (1件)： アイ・ピー・ディー国際特許業務法人
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-188468
公開番号（公開出願番号）：特開2014-049780
特許番号：特許第6091807号
出願日： 2012年08月29日
公開日（公表日）： 2014年03月17日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 中心画素と同色レイヤであって前記中心画素に隣接する第1の画素群の画素値のうち第1の最大値と第1の最小値との第1の差分値を算出する第1の差分算出部と、 前記中心画素と同色レイヤであって前記中心画素に隣接する第2の画素群の画素値のうち第2の最大値と第2の最小値との第2の差分値を算出する第2の差分算出部と、 前記第1の最大値または前記第1の最小値と前記中心画素の画素値との関係と前記第1の差分値と前記第2の差分値とに基づいて、前記中心画素が欠陥画素であるか否かを判定する判定部と、 を備え、 前記判定部は、前記第1の最大値または前記第1の最小値と前記中心画素の画素値との関係が第1の条件を満たし、かつ、前記第1の差分値が第2の条件を満たし、かつ、前記第2の差分値が第3の条件を満たす場合に、前記中心画素が欠陥画素であると判定し、 前記第1の条件は、前記中心画素の画素値が前記第1の最大値よりも大きい場合には、前記中心画素の画素値から前記第1の最大値を減じた値が第1の閾値よりも大きいという条件である、 欠陥画素判定装置。
IPC (2件)：
H04N 5/367 ( 201 1.01) ,  H04N 9/07 ( 200 6.01)
FI (2件)：
H04N 5/335 670 ,  H04N 9/07 C
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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