特許
J-GLOBAL ID：201703006565204358

日射計測装置ならびにこれを使用する照射状態分析装置および光分布測定装置

発明者：
滝川 浩史

滝川 浩史 について


出願人/特許権者：
国立大学法人豊橋技術科学大学

国立大学法人豊橋技術科学大学 について


代理人 (3件)： 井川 浩文 ,  森岡 正往 ,  特許業務法人SANSUI国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-088855
公開番号（公開出願番号）：特開2017-198520
出願日： 2016年04月27日
公開日（公表日）： 2017年11月02日
要約：
【課題】 温度変化を補正しつつ日射を計測し得る日射計測装置を提供するとともに、この日射計測装置を使用しつつ、特定波長の照射の状態を計測し、または反射光などの散乱光を含む光の照射分布を測定し得る装置を提供する。【解決手段】 日射測定装置は、光電変換センサ31,32を直列もしくは並列に接続し、その両端に接続された抵抗と、この抵抗に対して直列または並列に接続されたサーミスタ6とを備える。抵抗およびサーミスタによって出力抵抗を形成し、出力抵抗の両端に発生する電圧からオームの法則に基づく略短絡電流値を得るとともに、略短絡電流値の変化量により日射を計測する。光電変換センサにバンドパスフィルタを設置して照射状態を分析し、異なる向きに設置して光分布を測定する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
単一の光電変換センサ、複数の光電変換センサにより形成される光電変換センサ群、または該光電変換センサ群を直列もしくは並列に接続してなる光電変換センサモジュールと、 前記光電変換センサ、前記光電変換センサ群、前記光電変換センサモジュール、または前記光電変換センサモジュールを直列もしくは直並列に接続してなる光電変換センサモジュール群の中から選択された1つ以上の両端に接続された抵抗と、該抵抗に対して直列または並列に接続されたサーミスタとを備え、 前記抵抗および前記サーミスタによって出力抵抗を形成し、該出力抵抗の両端に発生する電圧からオームの法則に基づく略短絡電流値を得るとともに、該略短絡電流値の変化量により日射を計測する ことを特徴とする日射計測装置。
IPC (3件)：
G01W 1/12 ,  G01J 1/02 ,  G01J 1/44
FI (3件)：
G01W1/12 D ,  G01J1/02 U ,  G01J1/44 D
Fターム (15件)：
2G065AA11 ,  2G065AA13 ,  2G065AA15 ,  2G065AB02 ,  2G065AB04 ,  2G065AB05 ,  2G065BA07 ,  2G065BA09 ,  2G065BA10 ,  2G065BA13 ,  2G065BA37 ,  2G065BB27 ,  2G065BC05 ,  2G065CA21 ,  2G065DA07
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 日射計測装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2008-323006   出願人：国立大学法人豊橋技術科学大学
審査官引用 (1件)
  • 日射計測装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2008-323006   出願人：国立大学法人豊橋技術科学大学

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