日射計測装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：三木久巳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-323006
公開番号（公開出願番号）：特開2010-145254
出願日： 2008年12月18日
公開日（公表日）： 2010年07月01日
要約：

【課題】気象以外の要因によって一時的且つ過渡的に発生する影に影響されることなく、日射を正確且つ的確に計測できる日射計測装置を提供する。【解決手段】直列接続及び/又は並列接続した複数の光電変換センサモジュールを用いることで、計測器の一部を遮蔽する一時的且つ過渡的な影の影響を排除することを可能とする。これらの光電変換センサモジュールは、少なくとも1個が影により遮蔽されないように分布配置及び/又は集合配置されることにより光電変換センサモジュール群を形成する。この光電変換センサモジュール群において、最大日射を計測する光電変換センサモジュールからの日射測定値を、自動的に実際の日射量として検出する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

日射を計測すべき対象区画内に2個以上の光電変換センサモジュールを接続したセンサモジュール群を配置し、前記センサモジュール群に気象及び夜間以外の要因に起因した影が発生した場合に少なくとも1個の光電変換センサモジュールに前記影が生じないように前記センサモジュール群を構成したことを特徴とする日射計測装置。

IPC (1件)：

G01W 1/12

FI (1件)：

G01W1/12 D

引用特許：

出願人引用 (10件)

日射センサ装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-131710 出願人：京セラ株式会社
日照・日射計
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-204053 出願人：横河電子機器株式会社
受光量測定方法および日照条件測定方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-254614 出願人：池田貴昭

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審査官引用 (8件)

日照計
公報種別：公開公報出願番号：特願2003-307024 出願人：横河電子機器株式会社
日射状態検出装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2007-145689 出願人：パナソニック電工株式会社
日射計測システム、日射計測用のプログラム
公報種別：公開公報出願番号：特願2007-151865 出願人：英弘精機株式会社, 高村民雄

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引用文献：

出願人引用 (1件)

実地応用のための気象観測技術, 19760515, P.86,87

審査官引用 (2件)

実地応用のための気象観測技術, 19760515, P.86,87
実地応用のための気象観測技術, 19760515, P.86,87

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