特許
J-GLOBAL ID:201703009200891371
半導体装置、光源制御装置および光源制御システム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人深見特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-042488
公開番号(公開出願番号):特開2017-158152
出願日: 2016年03月04日
公開日(公表日): 2017年09月07日
要約:
【課題】通信ネットワークの品質を診断することが可能な半導体装置を提供する。【解決手段】光源と接続される半導体装置であって、インターフェースモジュールに接続され、光源の照度を増減させる命令信号を送受信する信号処理部と、インターフェースモジュールが受信した命令信号のデータを示す信号の変化タイミングが所定区間内に含まれるか否かに基づいてインターフェースモジュールの劣化を検出する劣化検出部とを備える。【選択図】図2
請求項(抜粋):
光源と接続される半導体装置であって、
インターフェースモジュールに接続され、前記光源の照度を増減させる命令信号を送受信する信号処理部と、
前記インターフェースモジュールが受信した前記命令信号のデータを示す信号の変化タイミングが所定区間内に含まれるか否かに基づいて前記インターフェースモジュールの劣化を検出する劣化検出部とを備える、半導体装置。
IPC (3件):
H04L 25/02
, H05B 37/02
, H04L 29/14
FI (3件):
H04L25/02 301D
, H05B37/02 B
, H04L13/00 313
Fターム (30件):
3K273PA10
, 3K273QA27
, 3K273QA36
, 3K273QA37
, 3K273QA38
, 3K273SA17
, 3K273SA36
, 3K273SA50
, 3K273TA15
, 3K273TA22
, 3K273TA41
, 3K273TA52
, 3K273TA54
, 3K273TA64
, 3K273TA69
, 3K273TA76
, 3K273UA06
, 3K273UA12
, 3K273UA14
, 3K273UA15
, 5K029AA01
, 5K029CC01
, 5K029DD22
, 5K029GG07
, 5K029HH01
, 5K029KK11
, 5K029KK22
, 5K035EE04
, 5K035GG02
, 5K035JJ03
引用特許:
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