特許
J-GLOBAL ID：201703009563342710

射出成形機の異常診断装置

発明者：
丸山 淳平

丸山 淳平 について


出願人/特許権者：
ファナック株式会社

ファナック株式会社 について


代理人 (1件)： あいわ特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-151961
公開番号（公開出願番号）：特開2017-030221
出願日： 2015年07月31日
公開日（公表日）： 2017年02月09日
要約：
【課題】分析者の知識や経験の量によらず精度の高い異常の診断を行うことを可能とする射出成形機の異常診断装置を提供すること。【解決手段】本発明の異常診断装置は、射出成形機の内的外的な状態変数を入力し、機械学習器によって射出成形機の異常を診断する異常診断装置であって、機械学習器の内部パラメータは、異常が発生した射出成形機から得られた前記状態変数と、異常が発生しなかった射出成形機から得られた前記状態変数とを用いて機械学習を行うことで得られたものであることを特徴とする。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
射出成形機の内的外的な状態データを入力し、機械学習器によって射出成形機の異常を診断する異常診断装置であって、 前記機械学習器の内部パラメータは、異常が発生した時に得られた前記状態データと、異常が発生しなかった時に得られた前記状態データとを用いて機械学習を行うことで得られたものである、 ことを特徴とする異常診断装置。
IPC (2件)：
B29C 45/76 ,  B22D 17/32
FI (2件)：
B29C45/76 ,  B22D17/32 J
Fターム (8件)：
4F206AM22 ,  4F206AP01 ,  4F206AP03 ,  4F206AP04 ,  4F206JP11 ,  4F206JP13 ,  4F206JP15 ,  4F206JP18
引用特許：
審査官引用 (3件)

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