特許

J-GLOBAL ID：201703009883771104

質量分析装置及び質量分析方法

発明者： 河井 洋輔 ,  豊田 岐聡 ,  本堂 敏信 ,  寺田 健太郎
出願人/特許権者： 国立大学法人大阪大学
代理人 (1件)： 特許業務法人HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-081605
公開番号（公開出願番号）：特開2017-191739
出願日： 2016年04月15日
公開日（公表日）： 2017年10月19日
要約：

【課題】質量範囲のダイナミックレンジの拡大を容易に実現する。【解決手段】質量分析装置(1)は、イオン電流信号を高速AD変換する高速デジタイザ(3)と、イオン電流信号を積算することにより質量スペクトルを生成するアナログモードプロセッサ(5)と、イオン電流信号のパルスの高さが、所定の閾値を超えた回数をカウントすることにより質量スペクトルを生成するカウンティングモードプロセッサ(6)とを備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

測定試料からイオン化されたイオンを検出する検出器により生成されたイオン電流信号をAD変換するAD変換器と、 前記AD変換器によりAD変換されたイオン電流信号に基づいて前記測定試料の質量スペクトルを生成するデータ処理器とを備え、 前記データ処理器が、前記AD変換されたイオン電流信号を積算することにより、前記質量スペクトルを生成するアナログモードプロセッシングと、 前記AD変換されたイオン電流信号のパルスの高さが、所定の閾値を超えた回数をカウントすることにより、前記質量スペクトルを生成するカウンティングモードプロセッシングとを実行することを特徴とする質量分析装置。

IPC (2件)：

H01J 49/40 ,  G01N 27/62

FI (3件)：

H01J49/40 ,  G01N27/62 D ,  G01N27/62 V

Fターム (7件)：

2G041CA01 ,  2G041EA05 ,  2G041FA02 ,  2G041GA02 ,  2G041GA03 ,  2G041GA05 ,  2G041LA08