特許
J-GLOBAL ID:201703010584882160
半導体装置
発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-112344
公開番号(公開出願番号):特開2013-008437
特許番号:特許第6166866号
出願日: 2012年05月16日
公開日(公表日): 2013年01月10日
請求項(抜粋):
【請求項1】論理回路と、第1の記憶回路と、第2の記憶回路と、プリチャージ回路と、を有し、
前記論理回路は、第1のノードと、第2のノードと、を有し、
前記第1の記憶回路は、第1のトランジスタと、第1の容量素子と、を有し、
前記第2の記憶回路は、第2のトランジスタと、第2の容量素子と、を有し、
前記第1のトランジスタは、チャネルに酸化物半導体を有し、
前記第2のトランジスタは、チャネルに酸化物半導体を有し、
前記第1の記憶回路は、前記第1のノードに対応した第1のデータを保持する機能と、前記第1の記憶回路に保持されている前記第1のデータを前記第1のノードに書き込む機能と、を有し、
前記第2の記憶回路は、前記第2のノードに対応した第2のデータを保持する機能と、前記第2の記憶回路に保持されている前記第2のデータを前記第2のノードに書き込む機能と、を有し、
前記プリチャージ回路は、前記第1の記憶回路に保持されている前記第1のデータを前記第1のノードに書き込む前、及び、前記第2の記憶回路に保持されている前記第2のデータを前記第2のノードに書き込む前に、プリチャージ電位を前記第1のノード及び前記第2のノードに供給する機能を有する半導体装置。
IPC (3件):
G11C 14/00 ( 200 6.01)
, H01L 21/8239 ( 200 6.01)
, H01L 27/105 ( 200 6.01)
FI (2件):
G11C 14/00 200
, H01L 27/105 441
引用特許:
出願人引用 (3件)
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状態保持回路を具備する集積回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-267432
出願人:株式会社日立製作所
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特許第6082189号
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特許第5886496号
審査官引用 (7件)
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状態保持回路を具備する集積回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-267432
出願人:株式会社日立製作所
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半導体薄膜
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-258275
出願人:キヤノン株式会社
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半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2010-239730
出願人:株式会社半導体エネルギー研究所
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半導体装置及びその駆動方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2012-110896
出願人:株式会社半導体エネルギー研究所
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記憶装置及び信号処理回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願2012-112276
出願人:株式会社半導体エネルギー研究所
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特開平4-366495
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特開平4-367120
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