特許
J-GLOBAL ID：201703013440293657
電子・電気機器用銅合金、電子・電気機器用銅合金薄板、電子・電気機器用導電部品及び端子
発明者：
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出願人/特許権者：
,
代理人 (4件)：
志賀 正武
, 高橋 詔男
, 増井 裕士
, 細川 文広
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-013224
公開番号（公開出願番号）：特開2014-145096
特許番号：特許第6097576号
出願日： 2013年01月28日
公開日（公表日）： 2014年08月14日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 Znを23mass%以上36.5mass%以下、Snを0.1mass%以上0.8mass%以下、Niを0.15mass%以上1.0mass%未満、Feを0.001mass%以上0.08mass%以下、Pを0.005mass%以上0.1mass%以下含有し、残部がCuおよび不可避的不純物からなり、
Feの含有量とNiの含有量との比Fe/Niが、原子比で、
0.002≦Fe/Ni<0.7
を満たし、
かつ、NiおよびFeの合計含有量(Ni+Fe)とPの含有量との比(Ni+Fe)/Pが、原子比で、
3<(Ni+Fe)/P<15
を満たし、
さらに、Snの含有量とNiおよびFeの合計量(Ni+Fe)との比Sn/(Ni+Fe)が、原子比で、
0.3<Sn/(Ni+Fe)<2.9
を満たすとともに、
Cu、ZnおよびSnを含有するα相を、EBSD法により1000μm2以上の測定面積を測定間隔0.1μmステップで測定して、データ解析ソフトOIM(登録商標)ver.5.3により解析された信頼性指数CI値が0.1以下である測定点を除いて解析し、隣接する測定間の方位差が15°を超える測定点間を大傾角粒界とし、前記方位差が2°以上15°以下となる測定点間を小傾角粒界およびサブグレインバウンダリーとしたとき、前記小傾角粒界および前記サブグレインバウンダリーがPartition Fractionで80%以下存在しており、
Cu、ZnおよびSnを含有するα相の平均結晶粒径(双晶を含む)が0.1μm以上50μm以下の範囲内とされていることを特徴とする電子・電気機器用銅合金。
IPC (6件)：
C22C 9/04 ( 200 6.01)
, H01B 1/02 ( 200 6.01)
, H01B 5/02 ( 200 6.01)
, H01R 13/03 ( 200 6.01)
, C22F 1/08 ( 200 6.01)
, C22F 1/00 ( 200 6.01)
C22C 9/04
, H01B 1/02 A
, H01B 5/02 Z
, H01B 5/02 A
, H01R 13/03 A
, H01R 13/03 D
, C22F 1/08 B
, C22F 1/00 613
, C22F 1/00 623
, C22F 1/00 630 A
, C22F 1/00 630 F
, C22F 1/00 630 K
, C22F 1/00 650 A
, C22F 1/00 661 A
, C22F 1/00 682
, C22F 1/00 683
, C22F 1/00 685 Z
, C22F 1/00 686 A
, C22F 1/00 686 B
, C22F 1/00 691 B
, C22F 1/00 691 C
, C22F 1/00 692 A
, C22F 1/00 694 A
, C22F 1/00 694 B
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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