特許
J-GLOBAL ID:201703014280360529

電子・電気機器用銅合金、電子・電気機器用銅合金塑性加工材、電子・電気機器用部品、端子、及び、バスバー

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 志賀 正武 ,  寺本 光生 ,  松沼 泰史 ,  細川 文広 ,  大浪 一徳
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-069078
公開番号(公開出願番号):特開2017-179490
出願日: 2016年03月30日
公開日(公表日): 2017年10月05日
要約:
【課題】導電性、強度、曲げ加工性、耐応力緩和特性に優れた電子・電気機器用銅合金、電子・電気機器用銅合金塑性加工材、電子・電気機器用部品、端子、及び、バスバーを提供する。【解決手段】Mgを0.15mass%以上、0.35mass%未満の範囲内で含み、残部がCuおよび不可避的不純物からなり、導電率が75%IACS超えるとともに、 EBSD法により1000μm2以上の測定面積を測定間隔0.5μmステップで測定して、データ解析ソフトOIMにより解析されたCI値が0.1以下である測定点を除いて解析したとき、隣接する測定点間の方位差が2°以上15°以下となる測定点間である小傾角粒界およびサブグレインバウンダリーの長さをLLB、隣接する測定点間の方位差が15°を超える測定点間である大傾角粒界の長さをLHBとしたときに、以下の式が成り立つ。LLB/(LLB+LHB)>20%【選択図】なし
請求項(抜粋):
Mgを0.15mass%以上、0.35mass%未満の範囲内で含み、残部がCuおよび不可避的不純物からなり、 導電率が75%IACS超えるとともに、 EBSD法により1000μm2以上の測定面積を測定間隔0.5μmステップで測定して、データ解析ソフトOIMにより解析されたCI値が0.1以下である測定点を除いて解析し、隣接する測定点間の方位差が2°以上15°以下となる測定点間である小傾角粒界およびサブグレインバウンダリーの長さをLLB、隣接する測定点間の方位差が15°を超える測定点間である大傾角粒界の長さをLHBとしたときに、以下の式が成り立つことを特徴とする電子・電気機器用銅合金。 LLB/(LLB+LHB)>20%
IPC (2件):
C22C 9/00 ,  H01B 1/02
FI (2件):
C22C9/00 ,  H01B1/02 A
Fターム (6件):
5G301AA08 ,  5G301AA12 ,  5G301AB01 ,  5G301AB05 ,  5G301AD03 ,  5G301AD05
引用特許:
審査官引用 (6件)
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