特許
J-GLOBAL ID：201703016150130818
品質異常の原因推定支援システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
安田 敏雄
, 安田 幹雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-174599
公開番号（公開出願番号）：特開2014-179060
特許番号：特許第6116445号
出願日： 2013年08月26日
公開日（公表日）： 2014年09月25日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 品質検査工程を含む複数の工程から構成される製造ラインにおいて製造された製造物の品質異常の原因を推定する作業をオペレータが行うに際し、前記推定作業を支援する支援システムであって、
前記支援システムは、オペレータが確認可能な表示器を有し、
前記表示器には、品質評価の指標と製造工程における第1の条件との相関関係が表示され、
表示された相関関係に基づいて表示器上でオペレータが指定した範囲の品質評価の指標と、前記第1の条件とは異なる第2の条件との相関関係が自動的に表示され、
前記第1の条件及び第2の条件は、製造工程における温度で表される数値情報、圧力で表される数値情報、水量で表される数値情報、又は複数の装置で構成された工程において1の装置を特定する文字情報であり、前記第1の条件が前記数値情報又は文字情報のうちのいずれか一つであり、第2条件が前記第1の条件とは異なるいずれか一つであり、
前記第1の条件又は第2の条件が前記数値情報である場合、前記数値情報及び/又は該数値情報に関連する他の数値情報の時系列変化が表示可能なように構成されていることを特徴とする品質異常の原因推定支援システム。
IPC (4件)：
G05B 19/418 ( 200 6.01)
, G06Q 50/04 ( 201 2.01)
, B21C 51/00 ( 200 6.01)
, B21B 45/02 ( 200 6.01)
G05B 19/418 Z
, G06Q 50/04
, B21C 51/00 P
, B21B 45/02 320 T
