特許
J-GLOBAL ID：201703018178490715

半導体装置、電池監視システムおよび診断方法

発明者：
杉村 直昭

杉村 直昭 について


出願人/特許権者：
ラピスセミコンダクタ株式会社

ラピスセミコンダクタ株式会社 について


代理人 (3件)： 中島 淳 ,  加藤 和詳 ,  福田 浩志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-101833
公開番号（公開出願番号）：特開2017-207453
出願日： 2016年05月20日
公開日（公表日）： 2017年11月24日
要約：
【課題】半導体装置の自己診断において、診断対象となる主配線に印加する電位を変化させた場合に顕在化する異常の検出を可能とする。【解決手段】半導体装置は、直列接続された複数の電池セルの互いに異なる電位を生じるノードの各々に対応して設けられた複数の主配線と、直列接続された複数の抵抗素子を含み、一端が電源ラインに接続された直列抵抗回路と、直列抵抗回路の他端に接続された第1の電流源と、複数の抵抗素子のうちの特定の抵抗素子の高電位側の端部または直列抵抗回路の特定の抵抗素子の高電位側の端部よりも高電位の部分に接続された第2の電流源と、複数の主配線のうちの一対の診断対象配線の一方と特定の抵抗素子の一端との間に設けられた第1のスイッチと、一対の診断対象配線の他方と特定の抵抗素子の他端との間に設けられた第2のスイッチと、を含む。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
直列接続された複数の電池セルの互いに異なる電位を生じるノードの各々に対応して設けられた複数の主配線と、 直列接続された複数の抵抗素子を含み、一端が電源ラインに接続された直列抵抗回路と、 前記直列抵抗回路の他端に接続された第1の電流源と、 前記複数の抵抗素子のうちの特定の抵抗素子の高電位側の端部、または前記直列抵抗回路の、前記特定の抵抗素子の高電位側の端部よりも高電位の抵抗素子間の接続部に接続された第2の電流源と、 前記複数の主配線のうちの一対の診断対象配線の一方と前記特定の抵抗素子の一端との間に設けられた第1のスイッチと、 前記一対の診断対象配線の他方と前記特定の抵抗素子の他端との間に設けられた第2のスイッチと、 を含む半導体装置。
IPC (1件)：
G01R 19/00
FI (1件)：
G01R19/00 B
Fターム (8件)：
2G035AA00 ,  2G035AB03 ,  2G035AC01 ,  2G035AD10 ,  2G035AD11 ,  2G035AD47 ,  2G035AD56 ,  2G035AD65
引用特許：
出願人引用 (2件)

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