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J-GLOBAL ID：201802210340955107   整理番号：18A0190000

解析と緩和またはIRドロップ誘起スキャンシフト誤差【Powered by NICT】

Analysis and mitigation or IR-Drop induced scan shift-errors

著者 (8件)： Holst Stefan (Kyushu Institute of Technology, Iizuka, Japan) ,  Schneider Eric (University of Stuttgart, Stuttgart, Germany) ,  Kawagoe Koshi (Kyushu Institute of Technology, Iizuka, Japan) ,  Kochte Michael A. (University of Stuttgart, Stuttgart, Germany) ,  Miyase Kohei (Kyushu Institute of Technology, Iizuka, Japan) ,  Wunderlich Hans-Joachim (University of Stuttgart, Stuttgart, Germany) ,  Kajihara Seiji (Kyushu Institute of Technology, Iizuka, Japan) ,  Wen Xiaoqing (Kyushu Institute of Technology, Iizuka, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ITC  ページ： 1-8  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： スキャンシフト時の過剰なIR降下はクロックバッファ周囲に局在するIR降下の原因となり,動的クロックスキューを導入することができる。隣接スキャンフリップフロップで過剰なクロックスキューはシフト中の改悪試験刺激またはテスト応答保持またはセットアップのタイミング違反をもたらした。各走査サイクルとフリップ-フロップでcorruptionそのような試験データのリスクを評価するために新しい方法を導入した。試験データ破壊の最も可能性のある例は,影響を受けた反応の選択的試験データ操作とマスキングにより非侵入的に軽減した。評価結果は,大きなベンチマーク回路に対して提案手法の計算上の実現可能性を示し,いくつかの標的パターン変化は故障検出率で無視できるコストでシフト安全性と試験時間の大きな潜在的利益を提供することを示す。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 安全性 ,  走査 ,  マスキング ,  *故障検出 ,  ベンチマーク回路 ,  試験データ
準シソーラス用語： スキャンフリップフロップ ,  クロックスキュー , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (8件)： 解析 ,  緩和 ,  Ir ,  ドロップ ,  誘起 ,  スキャン ,  シフト ,  誤差