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J-GLOBAL ID:201802214244966622   整理番号:18A1489848

セリウムドープGd_3Al_2Ga_3O_12結晶中の酸素空孔に隣接するGd2+イオンにより形成された浅い電子トラップ【JST・京大機械翻訳】

Shallow electron traps formed by Gd2+ ions adjacent to oxygen vacancies in cerium-doped Gd3Al2Ga3O12 crystals
著者 (9件):
資料名:
巻: 113  号:ページ: 041906-041906-4  発行年: 2018年 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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セリウムをドープしたGd_3Al_2Ga_3O_12(Ce:GAGG)中の浅い電子トラップの起源を明らかにするために,セリウムをドープしたLu_3-_xGd_xAl_2Ga_3O_12結晶の光学的性質を調べた。x=3の吸収スペクトルは,3.31eV紫外光で励起したとき,12000cm-1で顕著なバンドを示した。このバンドは以前に酸素空孔に関連した欠陥錯体における浅い電子トラップに起因していた。Gd3+イオンがLu3+イオンで置換されたとき,12000cm-1バンドは弱まり,Ce:Lu_3Al_2Ga_3O_12に対して完全に消失した。さらに,熱刺激ルミネセンスグロー曲線を観測した。光学的に刺激されたルミネセンスは,伝導帯極小のエネルギーがLu3+イオンの存在によって変化しないことを示した。従って,Gd3+イオンはCe:GAGG中の浅い電子トラップの形成に重要であった。第一原理計算は,浅い電子トラップの原因となるGd3+イオンがGAGG八面体サイトでアンチサイト欠陥を形成することを意味した。したがって,酸素空格子点に隣接するアンチサイトGd2+イオンの欠陥錯体がCe:GAGG中の浅い電子トラップに対する最も妥当な候補であった。Copyright 2018 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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無機化合物のルミネセンス 

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