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J-GLOBAL ID：201802225415487751   整理番号：18A1334229

革新的な進化を遂げたTOF-SIMSスペクトル解析「パラレルイメージングMS/MS」

Advanced Spectra Interpretation in TOF-SIMS “Parallel Imaging MS/MS”

著者 (3件)： 飯田真一 (アルバックファイ) ,  FISHER Gregory L. (Physical Electronics) ,  宮山卓也 (アルバックファイ)
資料名： ULVAC Technical Journal  (ULVAC Technical Journal)
号： 81  ページ： 26-32  発行年： 2017年08月31日 
JST資料番号： L3761A  ISSN： 0910-6189  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 最近,TOF-SIMSの応用は,高質量分子イオンの感度が劇的に改善されたので,広範囲の有機材料に拡大した。しかし,m/z200以上の測定質量から化学式を決定することは非常に困難であった。あいまいなピーク同定はTOF-SIMSにおける重要な問題だった。化学式と詳細な化学構造を決定するために,タンデムMS(MS/MS)を装備したTOF-SIMS装置を開発し,種々の有機材料の分析に適用した。本論文では,このユニークな装置を紹介し,MS/MSを用いたスペクトル分析の結果を示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *二次イオン質量分析 ,  *有機材料 ,  分子構造 ,  構造解析 ,  化学表記法 ,  飛行時間法 ,  スペクトルアナライザ ,  *スペクトル解析 ,  *分析機器
準シソーラス用語： SIMS【質量分析】 ,  化学構造 ,  化学式

分類 (2件)： 有機物質の物理分析一般  (CC03031B) ,  質量分析計  (BD02060M)

引用文献 (12件)：

• N. Sanada, A. Yamamoto, R. Oiwa and Y. Ohashi: Surf. Interface Anal., 36 (2004) 280.
• S. Ninomiya, K. Ichiki, H. Yamada, Y. Nakata, T. Seki, T. Aoki and J. Matsuo: Rapid Commun. Mass Spectrom., 23 (2009) 1601.
• T. Miyayama, N. Sanada, S. R. Bryan, J. S. Hammond and M. Suzuki: Surf. Interface Anal., 42 (2010) 1453.
• J. S. Fletcher, N. P. Lockyer, S. Vaidyanathan and J. C. Vickerman: Anal. Chem., 79 (2007) 2199.
• G. L. Fisher, A. M. Belu, C. M. Mahoney, K. Wormuth and N. Sanada: Anal. Chem., 81 (2009) 9930.

タイトルに関連する用語 (4件)： 進化 ,  TOF-SIMS ,  スペクトル解析 ,  パラレルイメージング