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J-GLOBAL ID:201802231384285067   整理番号:18A1995815

X線自由電子レーザーによる溶液試料のナノ観察

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巻: 47  号: 10  ページ: 413-417  発行年: 2018年10月10日 
JST資料番号: G0125B  ISSN: 0389-6625  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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・X線自由電子レーザー(XFEL)は,コヒーレントX線イメージングに適した光源で,試料が放射線損傷を受ける前の一瞬の姿を捉えるなど,新たな可能性を提供。
・溶液試料に対する集光XFELを用いたコヒーレントX線イメージング手法である,パルス状コヒーレントX線溶液散乱(PCXSS)法の概要と現状を解説。
・PCXSS法の原理を述べ,PCXSS法の測定例として,生細胞イメージングや機能性ナノ材料の液中イメージングなどを説明。
・産業応用として,自動車の排ガス浄化用触媒となる白金ナノ粒子や,全固体電池用の固体電解質の研究を実施。
・PCXS法は,生物試料を生理的条件に近い環境で観察できるのが特長で,生物試料のコヒーレントX線イメージングにも利用。
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分類 (2件):
分類
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その他のレーザ  ,  X線技術 
タイトルに関連する用語 (4件):
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