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J-GLOBAL ID:201802235572739065   整理番号:18A1334303

室温でのDCマグネトロンスパッタリングによるSi(111)上の単結晶AlN層のエピタキシャル成長

Epitaxial growth of single-crystalline AlN layer on Si(111) by DC magnetron sputtering at room temperature
著者 (7件):
資料名:
巻: 57  号:ページ: 060306.1-060306.4  発行年: 2018年06月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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DCマグネトロンスパッタリングによる室温でのSi(111)基板上のAlN層のエピタキシャル成長を調べた。AlN蒸着前のSi基板上への5nm厚Al層の予備堆積がAlN層のエピタキシャル成長に重要であることが分かった。AlN/Al/Siの配向関係は,AlN[1<span style=text-decoration:overline>1</span>00]||Al[0<span style=text-decoration:overline>1</span>1]||Si[11<span style=text-decoration:overline>2</span>]およびAlN[11<span style=text-decoration:overline>2</span>0]||Al[011]||Si[1<span style=text-decoration:overline>1</span>0]であることが観察され,Si(111)基板上のAlN層のエピタキシャル成長を示している。AlN層のこのエピタキシャル成長は,AlN[11<span style=text-decoration:overline>2</span>0]とSi[1<span style=text-decoration:overline>1</span>0]との間の格子不整合よりも,AlN[1<span style=text-decoration:overline>1</span>00]とAl[0<span style=text-decoration:overline>1</span>1],およびAlN[11<span style=text-decoration:overline>2</span>0]とAl[011]との間のより小さい格子不整合に起因していた。(翻訳著者抄録)
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分類 (2件):
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その他の無機化合物の薄膜  ,  固体の表面構造一般 
引用文献 (30件):
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