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J-GLOBAL ID：201802239805169057   整理番号：18A1105250

トランジスタ電気パラメータ抽出のためのサブ1ns特性化方法論【JST・京大機械翻訳】

Sub-1 ns characterization methodology for transistor electrical parameter extraction

著者 (6件)： Qu Yiming (College of Information Science & Electronic Engineering, Zhejiang University, No.38, Zheda Road, Hangzhou 310013, China) ,  Chen Bing (College of Information Science & Electronic Engineering, Zhejiang University, No.38, Zheda Road, Hangzhou 310013, China) ,  Liu Wei (College of Information Science & Electronic Engineering, Zhejiang University, No.38, Zheda Road, Hangzhou 310013, China) ,  Han Jinghui (College of Information Science & Electronic Engineering, Zhejiang University, No.38, Zheda Road, Hangzhou 310013, China) ,  Lu Jiwu (College of Electrical and Information Engineering, Hunan University, Lushan Gate, Lushan South Road, Changsha 410082, China) ,  Zhao Yi (College of Information Science & Electronic Engineering, Zhejiang University, No.38, Zheda Road, Hangzhou 310013, China)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 85  ページ： 93-98  発行年： 2018年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,ナノ秒時間スケールでのトランジスタ電気パラメータの抽出のための新しい方法を提案した。この技術は,主に任意波形発生器と高速実時間オシロスコープを含む超高速測定(UFM)システムにより可能である。雑音除去,同期および較正問題を解き,精度と精度を改善した。トランジスタのドレインにおける回路問題を回避するために,三次元(3-D)I-V特性化解法を報告して,サブ-1ns時間で測定したI_D-V_GとI_D-V_Dを次に引き出した。800psで測定されたI-V曲線は,標準パラメータ分析器で測定されたものと前例のない一致を示し,デバイス/回路モデリングと信頼性挙動研究に使用できる。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 三次元 ,  オシロスコープ ,  ナノ秒 ,  雑音除去 ,  波形発生器 ,  高速度 ,  *トランジスタ ,  信頼性 ,  *キャラクタリゼーション ,  モデリング ,  分析機器
準シソーラス用語： 超高速 ,  実時間 ,  *パラメータ抽出 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： UFMシステム ,  サブNS特性化 ,  3-D I-V ,  パラメータ抽出

分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (5件)： トランジスタ ,  パラメータ抽出 ,  サブ ,  特性化 ,  方法論