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J-GLOBAL ID：201802240009247075   整理番号：18A1859988

統合システムの過渡故障と動的バイアス部分回路を検出するためのボディ内蔵セル【JST・京大機械翻訳】

A body built-in cell for detecting transient faults and dynamically biasing subcircuits of integrated systems

著者 (3件)： Ferreira de Paiva Leite Thiago (Univ. Grenoble Alpes, CNRS, Grenoble INP 1Institute of Engineering, Univ. Grenoble Alpes., TIMA, Grenoble 38000, France) ,  Fesquet Laurent (Univ. Grenoble Alpes, CNRS, Grenoble INP 1Institute of Engineering, Univ. Grenoble Alpes., TIMA, Grenoble 38000, France) ,  Possamai Bastos Rodrigo (Univ. Grenoble Alpes, CNRS, Grenoble INP 1Institute of Engineering, Univ. Grenoble Alpes., TIMA, Grenoble 38000, France)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 88-90  ページ： 122-127  発行年： 2018年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電力消費と信頼性は,今日,ナノ電子システムの主な関心事である。実際に,これらの因子は密接に関連しており,システムの信頼できる動作は,その電源電圧(V_dd),動作周波数,およびボディバイアスと強く関連している。したがって,電力管理とフォールトトレランス技術は,より良い全体的な低消費で信頼できる解決策を保証するために,共同で実行される必要がある。本論文は,これらの2つの問題に対処するための新しいボディ内蔵セルを提示した。それは能力がある。1)短期間と長期間過渡故障(TF)を検出し,システムの信頼性を強化する。2)適応体バイアス(ABB)方式の実装を通して,回路の閾値電圧(V_th)を制御して,このように,低電力と高性能の間のシステムのトレードオフを最適化した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 集中方式 ,  電子装置 ,  信頼性 ,  最適化 ,  電力消費 ,  フォールトトレランス ,  *バイアス ,  電力管理
準シソーラス用語： 低電力化 ,  閾値電圧 ,  基板バイアス ,  動作周波数 ,  電源電圧 ,  *内蔵 ,  *過渡故障 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 身体バイアス ,  過渡故障検出 ,  レベルシフタ ,  BBICS

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 統合システム ,  過渡故障 ,  バイアス ,  ボディ ,  セル