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J-GLOBAL ID:201802243256993683   整理番号:18A1262079

ナノインプリントテンプレートのための有機/無機二層リフトオフを用いた画像反転,トポグラフィーおよび特徴サイズ操作【JST・京大機械翻訳】

Image inverting, topography and feature size manipulation using organic/inorganic bi-layer lift-off for nanoimprint template
著者 (2件):
資料名:
巻: 197  ページ: 39-44  発行年: 2018年 
JST資料番号: C0406B  ISSN: 0167-9317  CODEN: MIENEF  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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逆画像トーン,修正地形および調整可能な特徴サイズを有する複数のNILテンプレートを製造するための高速でコスト効率的な手法を提示した。負のマスタからのナノパターンは,高温焼成を排除するUV硬化二層リフトオフ法を用いて作製したNILテンプレートにおいて正の構造に反転した。純有機レジストの150nm犠牲層と無機/有機複合材料の200nmパターン形成レジストから成る二層を用いた。新しいNILテンプレート上のトポグラフィーは,円形ナノホールを持つ単一マスタから生成される正方形レイアウトである。マスタ上の特徴サイズは,非常に制御可能な方法で,サブ200nm(120/200/250/300nm)まで縮小した。150mmウエハスケールまでのナノ構造を,周囲の中心からエッジへのスキームを用いてソフトUV-NILにより転写した。パターン形成層における開口部の特徴サイズは,マスタから生成されるナノピラミッドをもつ中間テンプレートの利点を利用して,正確かつ制御可能に調整できる。有機犠牲層は,酸素プラズマにより熱分解され,過小になる。さらに,40nmのクロムを蒸発させ,パターン形成層と共に犠牲層を湿式化学ストリッパTexnisトリップ P1316により浮上させた。クロムエッチングマスクを用いたシリコンエッチングは,NILテンプレートのための滑らかで垂直な側壁に従事している。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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固体デバイス製造技術一般 
タイトルに関連する用語 (5件):
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