Czerny B. について
Christian Doppler Laboratory for Lifetime and Reliability of Interfaces in Complex Multi-Material Electronics, Chemical Technologies and Analytics, TU Wien, Getreidemarkt 9/CT-164, 1060 Vienna, Austria について
Khatibi G. について
Christian Doppler Laboratory for Lifetime and Reliability of Interfaces in Complex Multi-Material Electronics, Chemical Technologies and Analytics, TU Wien, Getreidemarkt 9/CT-164, 1060 Vienna, Austria について
Microelectronics Reliability について
接合 について
被覆 について
金属線 について
疲れ試験 について
剪断強さ について
相互接続 について
パワーエレクトロニクス について
銅 について
アルミニウム について
超音波 について
剪断試験 について
信頼性 について
剪断 について
高速度 について
配線 について
超音波くさび結合 について
パワーエレクトロニクスデバイス について
加速機械疲労試験 について
せん断強さ について
疲労抵抗 について
加齢効果 について
固体デバイス製造技術一般 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
ワイヤ について
ボンド について
ロバスト性 について
Al について
Cu について