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J-GLOBAL ID：201802246226751390   整理番号：18A1860174

分位回帰と擬似故障寿命に基づく加速劣化データのための新しい処理法【JST・京大機械翻訳】

A new processing method for accelerated degradation data based on quantile regression and pseudo-failure lifetime

著者 (3件)： Yang Jun (School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, China) ,  Shi Xiao (School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, China) ,  Zhang Jianchun (School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, China)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 88-90  ページ： 1141-1145  発行年： 2018年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 擬似破壊寿命に基づく加速劣化試験(ADT)データ処理法のキーは,劣化経路のモデリングにある。しかし,従来の回帰方法は,劣化の平均変化傾向を説明することができて,それは実際の劣化過程の多くの情報を失う可能性があった。したがって,工学的実践から与えられた加速モデルに対して,定量的回帰(QR)に基づくADTデータのための新しいモデリング法を提案した。異なる応力下での異なる量子化の劣化経路をQRにより得ることができ,ADTデータに対するより包括的な記述を提供し,システム状態を表現するために劣化の特定の定量化を使用することを可能にした。さらに,提案した方法は,ADTデータの異分散性と異常値の問題を克服することができる。最後に,ゴムOリングの二重応力ADT例を示し,提案した方法の実装を説明した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： Oリング ,  異常値 ,  *故障 ,  量子化 ,  モデリング ,  分散度
準シソーラス用語： 劣化過程 ,  データ処理法 ,  加速劣化試験 ,  *加速劣化 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： 加速劣化試験 ,  分位回帰 ,  擬似故障寿命

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 擬似 ,  故障 ,  寿命 ,  加速劣化 ,  処理法