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J-GLOBAL ID：201802246338129593   整理番号：18A1798221

走査型トンネル顕微鏡法/分光法を用いた機能性遷移金属酸化物薄膜の構造的性質と電子的性質の原子スケール研究

Atomic-scale studies of structural and electronic properties in functional transition metal oxide thin films using scanning tunneling microscopy/spectroscopy

著者 (2件)： SHIMIZU Ryota (Tokyo Inst. Technol.) ,  SHIMIZU Ryota (JST-PRESTO)
資料名： 日本磁気学会学術講演概要集  (Abstracts. Annual Conference on Magnetics in Japan)
巻： 42nd  ページ： 224  発行年： 2018年08月28日 
JST資料番号： Y0056A  ISSN： 1882-2959  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *トンネル分光法 ,  *走査型トンネル顕微鏡 ,  *酸化物 ,  *遷移金属化合物 ,  薄膜 ,  構造特性 ,  電子構造 ,  長さ ,  ナノ構造
準シソーラス用語： 原子スケール ,  構造的性質 ,  酸化物薄膜 ,  *遷移金属酸化物 ,  *走査型トンネル顕微鏡/走査型トンネル分光

分類 (2件)： 酸化物系超伝導体の物性  (BM04023I) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (10件)： 走査型トンネル顕微鏡法 ,  分光法 ,  機能性 ,  遷移 ,  金属酸化物薄膜 ,  構造的性質 ,  電子 ,  性質 ,  原子スケール ,  研究