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J-GLOBAL ID：201802246782210654   整理番号：18A1105264

二相遅延熱モデルに基づく最新のGaafet構造における温度分布に及ぼす温度と熱流束時間遅れの影響【JST・京大機械翻訳】

Influence of temperature and heat flux time lags on the temperature distribution in modern GAAFET structure based on Dual-Phase-Lag thermal model

著者 (3件)： Raszkowski Tomasz (Department of Microelectronics and Computer Science, Lodz University of Technology, Lodz, Poland) ,  Samson Agnieszka (Department of Microelectronics and Computer Science, Lodz University of Technology, Lodz, Poland) ,  Zubert Mariusz (Department of Microelectronics and Computer Science, Lodz University of Technology, Lodz, Poland)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 86  ページ： 10-19  発行年： 2018年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,Dual-Phase-Lag熱伝達モデルを用いて得られた温度分布に及ぼす温度時間遅れおよび熱流束時間遅れの影響の解析を提示した。この事実により,5nm技術ノードで開発された最新のGAAFET構造を考慮した。シミュレーションは,3つのケースにおける異なる時間瞬間のために解析した構造の内部の温度分布に及ぼす言及した時間遅れの影響を示した。最初のものは,温度時間遅れが変化するときの状況に関連し,熱流束時間遅れの値を固定した。第二のものは,熱流束時間遅れの変化値と温度時間遅れの固定値に関するものである。最後の事例はこれら二つのパラメータを同時に変えることを可能にした。それとは別に,解析された時間遅れの異なる値のいくつかの対に対する構造内部の温度分布も評価し,ある時間の瞬間について比較した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *熱流束 ,  *温度分布
準シソーラス用語： 伝熱モデル ,  *時間遅れ , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： 二相遅延モデル ,  FinFET ,  GAAFET ,  温度分布 ,  温度時間遅れ ,  熱流束時間遅れ

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 遅延熱 ,  モデル ,  温度分布 ,  熱流束 ,  時間遅れ