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J-GLOBAL ID：201802246959481223   整理番号：18A1712142

弱位相物体の単一高分解能透過電子顕微鏡画像からの出口波位相回復【JST・京大機械翻訳】

Exit-wave phase retrieval from a single high-resolution transmission electron microscopy image of a weak-phase object

著者 (10件)： Lin F. (College of Electronic Engineering, South China Agricultural University, Guangzhou, Guangdong, 510642, China) ,  Lin F. (State Key Laboratory of Silicon Materials, School of Materials Science and Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, 310027, China) ,  Ren X.B. (State Key Laboratory of Silicon Materials, School of Materials Science and Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, 310027, China) ,  Zhou W.P. (College of Electronic Engineering, South China Agricultural University, Guangzhou, Guangdong, 510642, China) ,  Zhang L.Y. (College of Electronic Engineering, South China Agricultural University, Guangzhou, Guangdong, 510642, China) ,  Xiao Y. (College of Electronic Engineering, South China Agricultural University, Guangzhou, Guangdong, 510642, China) ,  Zhang Q. (College of Electronic Engineering, South China Agricultural University, Guangzhou, Guangdong, 510642, China) ,  Xu H.T. (College of Electronic Engineering, South China Agricultural University, Guangzhou, Guangdong, 510642, China) ,  Li H. (College of Electronic Engineering, South China Agricultural University, Guangzhou, Guangdong, 510642, China) ,  Jin C.H. (State Key Laboratory of Silicon Materials, School of Materials Science and Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, 310027, China)
資料名： Micron  (Micron)
巻： 114  ページ： 23-31  発行年： 2018年 
JST資料番号： E0318E  ISSN： 0968-4328  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 弱い相の物体材料,例えばグラフェンと六方晶窒化ホウ素単分子層の高分解能透過型電子顕微鏡(HRTEM)画像から,出口波動関数の位相を数値的に検索する新しいアルゴリズムを提案した。それは,弱い位相物体の仮定の下で位相を検索するために,単一HRTEM画像を理論的に必要とするだけである。加えて,それは,5次まで幾何学的収差の影響を取り除くことができて,また,有限の時間的および空間的コヒーレンスのために,劣化した情報を改良することができた。さらに,その応用を示し,グラフェンの単一HRTEM画像における格子原子と線欠陥の同定を実証した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 波動関数 ,  収差 ,  グラフェン ,  アルゴリズム ,  *位相回復 ,  *画像 ,  単分子層 ,  *位相 ,  *位相物体
準シソーラス用語： 線欠陥 ,  空間コヒーレンス ,  六方晶窒化ホウ素 ,  HRTEM , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 位相回復 ,  出口波動関数 ,  HRTEM ,  弱位相物体

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 位相物体 ,  高分解能透過電子顕微鏡 ,  出口 ,  波 ,  位相回復