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J-GLOBAL ID：201802253110073208   整理番号：18A0537125

シータナノピペットを用いた走査型イオンコンダクタンス顕微鏡を用いた荷電表面のトポグラフィーイメージングと電荷マッピング【Powered by NICT】

Topographical imaging and charge mapping of charged surface using scanning ion conductance microscopy with a theta nanopipette

著者 (4件)： Shirasawa Tatsuru (Graduate School of Mechanical Engineering, Shizuoka University, Johoku, Naka-ku, Hamamatsu, 432-8561, Japan) ,  Mizutani Yusuke (Graduate School of Medical and Dental Sciences, Niigata University, 757-5 Asahimachi-dori-1, Chuo-ku, Niigata 951-8510, Japan) ,  Ushiki Tatsuo (Graduate School of Medical and Dental Sciences, Niigata University, 757-5 Asahimachi-dori-1, Chuo-ku, Niigata 951-8510, Japan) ,  Iwata Futoshi (Graduate School of Mechanical Engineering, Shizuoka University, Johoku, Naka-ku, Hamamatsu, 432-8561, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： MHS  ページ： 1-5  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査型イオンコンダクタンス顕微鏡(SICM)はナノピペットを通るイオン電流を検出することにより,液体中の生体試料を画像化できる。ナノピペットは直径約100nmの開口を持っている。SICM技術では,イオン電流の減少を検出することによって,試料表面の近傍におけるナノピペット端を位置づけることが可能である。方法により,多くの生物学的試料は,液体中の試料表面上の静電電荷,SICMにより検出されたイオン電流に影響することを示した。このようにして,電荷効果により発生したアーチファクトと雑音のないこのような荷電試料を観察することは困難である。本論文では,荷電試料を観察するために,著者らはSICMのプローブとしてのシータナノピペットを用いた。さらには,追加的に試料表面の電荷マップを得るための方法を開発した。新しい方法を用いて,地形画像と荷電試料表面の電荷マップを同時に得ることに成功した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 生体試料 ,  アーチファクト ,  画像 ,  開口 ,  画像処理 ,  プローブ ,  雑音 ,  イオン電流 ,  *電荷 ,  画像化 ,  *ナノピペット ,  *走査型イオン伝導顕微鏡

分類 (1件)： 生体の顕微鏡観察法  (EA03050C)

タイトルに関連する用語 (4件)： 走査型イオンコンダクタンス顕微鏡 ,  荷電 ,  電荷 ,  マッピング