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J-GLOBAL ID：201802254486998544   整理番号：18A2016357

パルスレーザ照射によるSEU断面積及びLET算出方法の検討

Comparison of LET versus SEU cross section curves for irradiation with pulsed laser

著者 (5件)： 行松和輝 (宇宙航空研究開発機構) ,  竹内浩三 (宇宙航空研究開発機構) ,  坂本敬太 (宇宙航空研究開発機構) ,  土屋佑太 (宇宙航空研究開発機構) ,  新藤浩之 (宇宙航空研究開発機構)
資料名： 宇宙科学技術連合講演会講演集(CD-ROM)  (宇宙科学技術連合講演会(CD-ROM))
巻： 62nd  ページ： ROMBUNNO.1J19  発行年： 2018年 
JST資料番号： S0277B  ISSN： 1884-1945  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *SEU【シングルイベント】 ,  *パルスレーザ照射 ,  *線エネルギー付与 ,  製品 ,  重イオンビーム ,  エネルギー移動 ,  SRAM ,  試験
準シソーラス用語： COTS ,  LSI試験

分類 (1件)： 集積回路一般  (NC03161C)

引用文献 (5件)：

• Buchner Stephen P, Miller Florent, Pouget Vincent, McMorrow Dale P: Pulsed-Laser Testing for Single Event Effects Investigations, IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, VOL.60, NO.3, JUNE 2013
• Vincent Pouget:Fundamentals of laser SEE testing and recent trends, presentation material, RALFDAY 2009
• Pascal Fouillat, Vincent Pouget, Dale McMorrow, Frederic Darracq, Stephen Buchner, dean LEWIS: Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for Single-Event Upset Testing, Radiation Effects on Embedded Systems, p.121-141
• Florent Miller, Nadine Buard, Thierry Carriere, Richard Dufayel, Remi Gaillard,Patrick Poirot, Jean-Marie Palau, Bruni Sagnes, and Pascal Fouillat:Effects of Beam Spot Size on the Correlation Between Laser and Heavy Ion SEU Testing, IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, VOL.51, NO.6, DECEMBER 2004
• V.Pougaet, H.Lapuyade, P.Fouillat, D.Lewis, S.Buchner: Theoretical Investigation of an Equivalent Laser LET, Microelectronics Reliability 41, 2001, 1513-1518

タイトルに関連する用語 (4件)： パルスレーザ照射 ,  SEU ,  断面積 ,  LET