Rzepa G. について
Institute for Microelectronics, TU Wien, Austria について
Franco J. について
imec, Leuven, Belgium について
O’Sullivan B. について
imec, Leuven, Belgium について
Subirats A. について
imec, Leuven, Belgium について
Simicic M. について
imec, Leuven, Belgium について
Hellings G. について
imec, Leuven, Belgium について
Weckx P. について
imec, Leuven, Belgium について
Jech M. について
Institute for Microelectronics, TU Wien, Austria について
Knobloch T. について
Institute for Microelectronics, TU Wien, Austria について
Waltl M. について
Institute for Microelectronics, TU Wien, Austria について
Roussel P.J. について
imec, Leuven, Belgium について
Linten D. について
imec, Leuven, Belgium について
Kaczer B. について
imec, Leuven, Belgium について
Grasser T. について
Institute for Microelectronics, TU Wien, Austria について
Microelectronics Reliability について
多重化 について
外挿法 について
モデリング について
フォノン について
帯電 について
半導体 について
シミュレーション について
酸化物 について
ゲートスタック について
デューティサイクル について
ゲート電圧 について
NBTI について
バイアス温度不安定性 について
物理モデル について
界面欠陥 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
BTI について
モデリング について
コンパクト について
物理 について
フレームワーク について