Sekiba D. について
Institute of Applied Physics, University of Tsukuba, Tennodai 1-1-1, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, Japan について
Sekiba D. について
University of Tsukuba, Tandem Accelerator Complex (UTTAC), Tennodai 1-1-1, Tsukuba, Ibaraki 305-8577, Japan について
Tamura T. について
Institute of Applied Physics, University of Tsukuba, Tennodai 1-1-1, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, Japan について
Harayama I. について
Institute of Applied Physics, University of Tsukuba, Tennodai 1-1-1, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, Japan について
Watahiki Y. について
University of Tsukuba, Tandem Accelerator Complex (UTTAC), Tennodai 1-1-1, Tsukuba, Ibaraki 305-8577, Japan について
Ishii S. について
University of Tsukuba, Tandem Accelerator Complex (UTTAC), Tennodai 1-1-1, Tsukuba, Ibaraki 305-8577, Japan について
Ozeki K. について
Department of Mechanical Engineering, Ibaraki University, Nakanarusawa 4-12-1, Hitachi, Ibaraki 316-8511, Japan について
Fukata N. について
Institute of Applied Physics, University of Tsukuba, Tennodai 1-1-1, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, Japan について
Fukata N. について
International Center for Materials Nanoarchitectonics, National Institute for Materials Science, Tsukuba, Ibaraki 305-0044, Japan について
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms について
深さプロフィル について
検出効率 について
高分解能 について
焼なまし について
マイクロチャネルプレート について
雑音 について
同位体 について
薄膜 について
水素 について
暗電流 について
ストッパ について
検出限界 について
軽元素 について
二次電子 について
ERD分析 について
イオンとの相互作用 について
イオンとの衝突・散乱 について
無機物質中の元素の放射化学的分析 について
MCP について
高分解能 について
開発 について
検出限界 について