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J-GLOBAL ID:201802266286190504   整理番号:18A2110779

電流遮断後に放出された微粒子に起因する遅発絶縁破壊現象【JST・京大機械翻訳】

Late Dielectric Breakdown Phenomenon Caused by Microparticles Released after Current Interruption
著者 (13件):
資料名:
巻: 2018  号: ISDEIV  ページ: 173-176  発行年: 2018年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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高速レーザシャドウグラフ写真により,アーク遮断現象により誘起された微粒子は,回復電圧応用中に非持続的破壊放電(NSDD)を引き起こすことを実証した。NSDDはAgWC電極に由来する2種類の微粒子によって引き起こされた。1種類の微粒子は~20~40μmの粒子サイズと~15m/sの移動速度を有していたが,他のタイプの粒子のサイズと速度はそれぞれ約100μmと~3m/sであった。大きな遅い微粒子は,電極間の上下運動の間,NSDDを数回引き起こした。全ての粒子誘起NSDDは,回復電圧の極性によって定義されたカソードへの粒子衝突のタイミングで起こった。一方,陰極衝突が起こった場合でも,いくつかの粒子はNSDDを引き起こすことなく陰極表面にのみ反射された。実験結果は,粒子誘起NSDDが現在の理論モデルでは説明できないことを示唆した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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