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J-GLOBAL ID：201802270733613445   整理番号：18A0312246

近接場赤外顕微鏡法を用いて得られた高分子画像データに適応する多変量解析

Multivariate Analysis Applied to Polymer Imaging Data Obtained by Near-Field Infrared Microscopy

著者 (5件)： Yamagishi Takayuki (Faculty of Life and Environmental Science, Department of Materials and Life Science, Seikei University) ,  Honobe Kenta (Faculty of Life and Environmental Science, Department of Materials and Life Science, Seikei University) ,  Aoyagi Satoka (Faculty of Life and Environmental Science, Department of Materials and Life Science, Seikei University) ,  Okawa Mayumi (Panasonic Corporation) ,  Kawashima Tomoko (Corporate Engineering Division, Appliances Company, Panasonic Corporation)
資料名： e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web)  (e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web))
巻： 15  ページ： 19-24(J-STAGE)  発行年： 2017年 
JST資料番号： U0016A  ISSN： 1348-0391  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 様々な分野で,質量分析(MS)画像処理や画像分光法などの化学画像処理技術の重要性が増している。例えば,赤外スペクトルの情報は有機試料や生体試料に不可欠である。最近,波長制限によって通常得られるもの以上に高い空間分解能を可能にする近接場分光法が開発された。有機材料の化学画像処理の観点から,飛行時間二次イオン質量分析(TOF-SIMS)は,極めて高い感度と約100nmの高い空間分解能により,有力な技術の一つである。TOF-SIMSは複雑な試料の完全な情報を常に提供しないため,同様の空間分解能の補足技術が必要である。近接場赤外顕微鏡法(NFIR)はTOF-SIMSと共に捕捉分析法の最も有望な候補である。しかし,近接場赤外線の低い信号強度により,通常NFIRデータを解釈するのは困難である。主成分分析(PCA)などの多変量解析技術はTOF-SIMS画像データに適応し,NFIRのデータ解釈に有効と思われる。本研究で,NFIRを用いて多成分高分子モデル試料を測定した後,PCAを行い,複雑なNFIRスペクトルと共に画像データを解析した。その結果,PCAで示した全ての成分に固有のピーク群をベースに,モデル試料成分の単独表示を可能にした。その結果,PCAで示した全ての成分に固有のピーク群をベースに,モデル試料成分の単独表示を可能にした。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *光学顕微鏡法 ,  *高分子 ,  *多変量解析 ,  画像処理 ,  空間分解能 ,  近接場 ,  二次イオン質量分析 ,  飛行時間法 ,  感度 ,  データ解析 ,  主成分分析
準シソーラス用語： データ解釈 ,  化学画像処理 ,  画像データ ,  赤外顕微鏡 ,  飛行時間二次イオン質量分析

著者キーワード (3件)： Near-Field Infrared Microscope (NFIR) ,  Principal component analysis (PCA) ,  Polymers

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

引用文献 (18件)：

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タイトルに関連する用語 (5件)： 近接場 ,  赤外顕微鏡 ,  高分子 ,  適応 ,  多変量解析