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J-GLOBAL ID:201802272082905834   整理番号:18A1682529

Mg及びNイオン注入によるβ-Ga_2O_3のアクセプタドーピング【JST・京大機械翻訳】

Acceptor doping of β-Ga2O3 by Mg and N ion implantations
著者 (7件):
資料名:
巻: 113  号: 10  ページ: 102103-102103-5  発行年: 2018年 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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MgとNによるβ-Ga_2O_3の深いアクセプタドーピングを,n型バルク基板への不純物イオンの注入によって実証した。系統的な物理的および電気的特性化を行い,N_2雰囲気中,1000~1200°Cでの熱アニーリングによる注入損傷結晶の回復とドーパント原子の電気的活性化を実証した。NはMgよりはるかに低い熱拡散率を示すことが分かり,従って,不純物プロフィルを著しく変えることなくN活性化効率を最大化するためにより高いアニーリング温度の使用を可能にした。結果として,n-Ga_2O_3/Ga_2O_3:N/n-Ga_2O_3構造は,そのMgドープ対応物よりも,その末端を横切ってはるかに大きな電圧を維持することができた。β-Ga_2O_3のアクセプタドーピングのためのイオン注入技術の開発は,種々の高電圧β-Ga_2O_3デバイスを設計し,エンジニアリングするためのユニークな機会を作り出す。Copyright 2018 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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半導体の格子欠陥  ,  半導体のルミネセンス 
タイトルに関連する用語 (3件):
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