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J-GLOBAL ID：201802272391310534   整理番号：18A1047540

高エネルギーヘリウム照射によるプラズマ対向材損傷評価のための透過電子顕微鏡と電子線後方散乱分析装置による試料内部の同所測定

Measurement for inside damage of tungsten sample at same position using transmission electron microscope and electron backscatter diffraction with scanning electron microscope to evaluate erosion of plasma facing material irradiated by high-energy helium

著者 (7件)： UCHIDA Yuki (Nagaoka Univ. Technol.) ,  SAITO Seiki (Kushiro Coll.) ,  SAITO Nobuo (Nagaoka Univ. Technol.) ,  SUZUKI Tsuneo (Nagaoka Univ. Technol.) ,  TAKAHASHI Kazumasa (Nagaoka Univ. Technol.) ,  SASAKI Toru (Nagaoka Univ. Technol.) ,  KIKUCHI Takashi (Nagaoka Univ. Technol.)
資料名： プラズマプロセシング研究会プロシーディングス(CD-ROM)  (プラズマプロセシング研究会(CD-ROM))
巻： 35th (Web)  ページ： ROMBUNNO.23P-102 (WEB ONLY)  発行年： 2017年 
JST資料番号： L4449B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *プラズマ対向材料 ,  *照射損傷 ,  電子顕微鏡観察 ,  電子回折 ,  *タングステン ,  試料採取 ,  ヘリウム ,  イオン照射
準シソーラス用語： TEM観察 ,  電子後方散乱回折 ,  マイクロサンプリング法 ,  FE-SEM

分類 (2件)： 固体-プラズマ相互作用  (BJ02033W) ,  核融合装置  (BJ02083Z)

タイトルに関連する用語 (9件)： 高エネルギー ,  ヘリウム ,  プラズマ ,  損傷評価 ,  透過電子顕微鏡 ,  電子線 ,  後方散乱 ,  分析装置 ,  試料