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J-GLOBAL ID：201802278171356941   整理番号：18A1810939

相変化メモリの信頼性と歩留り向上のための適応ECC技術【JST・京大機械翻訳】

Adaptive ECC Techniques for Reliability and Yield Enhancement of Phase Change Memory

著者 (3件)： Lu Shyue-Kung (Dept. Electrical Engineering, National Taiwan University of Science and Technology, Taipei, Taiwan) ,  Li Hui-Ping (Dept. Electrical Engineering, National Taiwan University of Science and Technology, Taipei, Taiwan) ,  Miyase Kohei (Dept. Creative Informatics, Kyushu Institute of Technology, Fukuoka, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： IOLTS  ページ： 226-227  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 収率と信頼性の問題は,新しい相変化メモリ(PCM)にとって重要な課題である。故障置換と誤差補正コードに基づくハード修復技術は,これらのジレンマを治療するために通常使用される。しかし,発生する永久故障の確率は低く,ソフトエラーはPCMに対する主要な脅威ではなく,各データ単語に対するECCの装備は多くのストレージ空間を廃棄する。したがって,この欠点を解決するために適応ECC技術を提案した。主なアイデアは,故障が検出されるとき,メモリ語のECCを等化することである。分離したECC DRAMをチェックビットを保存するために用いた。実験結果によると,修復速度の劣化はほとんど無視できる。しかしながら,ハードウェアオーバーヘッドは,元のECC技術より少なくとも70%低い。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 誤り訂正 ,  単語 ,  ハードウェア ,  *信頼性 ,  故障 ,  *記憶装置 ,  DRAM ,  ソフトエラー ,  ストレージ装置 ,  *歩留り向上
準シソーラス用語： オーバヘッド ,  ジレンマ ,  *相変化メモリ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 相変化メモリ ,  歩留り向上 ,  適応 ,  ECC