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J-GLOBAL ID：201802280571850771   整理番号：18A1977411

表面X線回折測定の高速化と固液界面構造のその場追跡

著者 (4件)： 白澤徹郎 (産業技術総合研 物質計測標準研究部門) ,  VOEGELI Wolfgang (東京学芸大 教育) ,  荒川悦雄 (東京学芸大 教育) ,  高橋敏男 (東京学芸大 教育)
資料名： 固体物理  (Solid State Physics)
巻： 53  号： 10  ページ： 525-530  発行年： 2018年10月15日 
JST資料番号： F0158B  ISSN： 0454-4544  CODEN： KOTBA2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・表面X線回折プロファイルが従来比100倍以上となる1秒以下で高速測定が可能な計測法の開発と,これを利用した固液界面電気化学反応のその場追跡を紹介。
・波長分散集束X線を用いた高速測定法はX線CTR散乱の強度分布の解析により,表面の原子位置,熱的または静的な構造ゆらぎ,原子サイト占有率などの結晶学的構造情報が取得可能。
・反応進行中のその場追跡を行うため,溶液層を約1mmにして物質輸送を確保した状態で行う固液界面その場観察法を紹介。
・固液界面構造のその場追跡として,メタノール電解質を用いたPt(111)電極表面上の電気化学反応を紹介。
・本方法は固液界面だけでなく,固気界面や固相界面のその場追跡に適用可能で,薄膜成長過程を表面から界面まで原子スケールで時分割解析することに成功。

シソーラス用語： *X線回折 ,  *固液界面 ,  計測 ,  電気化学反応 ,  X線散乱 ,  強度 ,  ゆらぎ ,  その場観察 ,  気固界面 ,  薄膜成長 ,  *表面X線回折法 ,  散乱強度 ,  構造ゆらぎ
準シソーラス用語： 計測法 ,  X線CTR散乱法 ,  固気界面

分類 (2件)： 固-液界面  (CB12050B) ,  固体の表面構造一般  (BK15010E)

タイトルに関連する用語 (3件)： 表面X線回折 ,  固液界面 ,  追跡