文献
J-GLOBAL ID:201802288457853067   整理番号:18A2146309

La1-xSrxMnO3薄膜における基板応力により誘起された異方的スピン分布の角度依存X線磁気円二色性による観測

著者 (25件):
資料名:
巻: 36  号:ページ: 13-18  発行年: 2018年11月 
JST資料番号: L0090A  ISSN: 0916-0604  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
近年我々が開発し,PF BL-16Aにおいて運用を行っているベクトルマグネット型X線磁気円二色性(XMCD)装置を用いて,SrTiO3(STO)およびLaAlO3(LAO)基板上に成長させた強磁性La1-xSrxMnO3(LSMO)薄膜の角度依存XMCD測定を行い,薄膜中のスピン分布異方性,すなわちスピン分極した電子の軌道占有状態の直接観測を試みた。XMCDスペクトルの磁場方向依存性の測定により,基板応力に由来するスピン密度分布の異方性の変化を観測することができた。得られた結果と先行研究のX線直線二色性との比較から,スピン分極した電子とそうでない電子との間で軌道占有状態に差が見られることが示唆された。(著者抄録)
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

準シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

分類 (1件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
磁性体測定技術・装置 

前のページに戻る