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J-GLOBAL ID：201802289944956078   整理番号：18A1899163

電子および正孔電流を別々に測定することによるIGBTにおける注入増強効果の検証【JST・京大機械翻訳】

Verification of the Injection Enhancement Effect in IGBTs by Measuring the Electron and Hole Currents Separately

著者 (18件)： Hoshii T. (Tokyo Institute of Technology, Yokohama, Japan) ,  Furukawa K. (Tokyo Institute of Technology, Yokohama, Japan) ,  Kakushima K. (Tokyo Institute of Technology, Yokohama, Japan) ,  Watanabe M. (Tokyo Institute of Technology, Yokohama, Japan) ,  Shigvo N. (Tokyo Institute of Technology, Yokohama, Japan) ,  Saraya T. (Tokyo Institute of Technology, Yokohama, Japan) ,  Takakura T. (The Universitv of Tokvo, Tokvo, Janan) ,  Ltou K. (The Universitv of Tokvo, Tokvo, Janan) ,  Fukui M. (The Universitv of Tokvo, Tokvo, Janan) ,  Suzuki S. (The Universitv of Tokvo, Tokvo, Janan) ,  Takeuchi K. (The Universitv of Tokvo, Tokvo, Janan) ,  Muneta I. (Tokyo Institute of Technology, Yokohama, Japan) ,  Wakabayashi H. (Tokyo Institute of Technology, Yokohama, Japan) ,  Nishizawa S. (Kyushu University, Fukuoka, Japan) ,  Tsutsui K. (The Universitv of Tokvo, Tokvo, Janan) ,  Hiramoto T. (The Universitv of Tokvo, Tokvo, Janan) ,  Ohashi H. (Tokyo Institute of Technology, Yokohama, Japan) ,  Lwai H. (Tokyo Institute of Technology, Yokohama, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： ESSDERC  ページ： 26-29  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： IGBTにおける注入増強効果を,エミッタ電子と正孔電流を別々に測定することにより実験的に検証した。指接触は,これらの電流の独立した測定を可能にするために,はしご状の周期的n+およびp+エミッタとして使用された。メサ幅の減少とセルピッチの増加は,エミッタからの電子注入を増加させ,注入増強効果を実証した。これらの実験結果はシミュレーション結果と良く一致した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 梯子 ,  *IGBT ,  *電流 ,  シミュレーション ,  *正孔 ,  電子注入

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (6件)： 電子 ,  正孔 ,  IGBT ,  注入 ,  増強 ,  検証