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J-GLOBAL ID：201802290897708898   整理番号：18A0415370

「あかり」赤外線全天マップで探る早期型銀河のダストと分子ガス・X線プラズマの関係

著者 (6件)： 國生拓摩 (名古屋大) ,  金田英宏 (名古屋大) ,  鈴木仁研 (名古屋大) ,  近藤晶乃 (名古屋大) ,  村田勝寛 (東京工大) ,  山岸光義 (JAXA)
資料名： 日本天文学会年会講演予稿集
巻： 2018  号： 春季  ページ： 154  発行年： 2018年02月20日 
JST資料番号： S0300B  ISSN： 1347-0639  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 天文衛星 ,  画像 ,  *銀河 ,  *宇宙塵 ,  *銀河進化 ,  星間ガス ,  一酸化炭素 ,  エネルギー分布 ,  *星間物質 ,  全天マップ ,  *早期型銀河 ,  スペクトルエネルギー分布 ,  飛翔体 ,  *天体
準シソーラス用語： *分子ガス ,  星間塵 ,  X線プラズマ

分類 (1件)： 星雲  (DB06000W)

タイトルに関連する用語 (8件)： あかり ,  赤外線 ,  全天マップ ,  早期型銀河 ,  ダスト ,  分子 ,  X線 ,  プラズマ