特許
J-GLOBAL ID：201803006370488758

材料診断方法

発明者：
江藤 淳二

江藤 淳二 について

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匂坂 充行

匂坂 充行 について

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礒部 仁博

礒部 仁博 について

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沖田 泰良

沖田 泰良 について


出願人/特許権者：
原子燃料工業株式会社

原子燃料工業株式会社 について

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国立大学法人 東京大学

国立大学法人 東京大学 について


代理人 (1件)： 上代 哲司
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-130828
公開番号（公開出願番号）：特開2013-253914
特許番号：特許第6246458号
出願日： 2012年06月08日
公開日（公表日）： 2013年12月19日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 材料中に生じたミクロ組織を、超音波を用いて非破壊的に定量して診断する材料診断方法であって、 析出物、ボイド、転位および相変態のいずれか1つ以上のミクロ組織が生じた結晶粒において、後方散乱波の変化が深さ方向のミクロ組織分布に関係している一方、底面波の変化が深さ方向の材料特性変化平均値に関係していることに基づいて、結晶粒による超音波散乱の変化を底面波、後方散乱波から捉えることにより、ミクロ組織の変化量を定量することを特徴とする材料診断方法であり、 析出物、ボイド、転位および相変態のいずれか1つ以上のミクロ組織が生じた結晶粒において、後方散乱波の変化が深さ方向のミクロ組織分布に関係している一方、底面波の変化が深さ方向の材料特性変化平均値に関係していることに基づいて、材料中に生じたミクロ組織を、超音波を用いて非破壊的に定量して診断する材料診断方法であって、 ミクロ組織の発生がない状態の材料に超音波を入射して超音波波形を得た後、前記超音波波形を周波数変換することにより作成された第1底面波および第2底面波の周波数分布より周波数毎の減衰係数を算出し、さらに、前記材料の密度および前記超音波の音速を取得し、得られた前記減衰係数、材料の密度および前記超音波の音速から結晶粒の体積を算出する初期結晶粒体積算出工程と、 診断対象の材料に超音波を入射して超音波波形を得た後、前記初期結晶粒体積算出工程と同様にして、診断対象の結晶粒の体積を算出する診断対象結晶粒体積算出工程と、 前記初期結晶粒体積算出工程および前記診断対象結晶粒体積算出工程において得られた各体積から結晶粒の体積変化量を求めることにより、ミクロ組織の発生量を定量するミクロ組織発生量定量工程と を備えていることを特徴とする材料診断方法。
IPC (2件)：
G01N 29/44 ( 200 6.01) ,  G01N 29/04 ( 200 6.01)
FI (2件)：
G01N 29/44 ,  G01N 29/04
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)
引用文献：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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