特許
J-GLOBAL ID：201803006373766996

電子部品搬送装置及び電子部品検査装置

発明者：
荻原 武彦

荻原 武彦 について


出願人/特許権者：
セイコーエプソン株式会社

セイコーエプソン株式会社 について


代理人 (3件)： 渡辺 和昭 ,  西田 圭介 ,  仲井 智至
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-190784
公開番号（公開出願番号）：特開2018-054464
出願日： 2016年09月29日
公開日（公表日）： 2018年04月05日
要約：
【課題】電子部品のトレーサビリティーを確立し、電子部品個々の品質を管理することが可能となる電子部品搬送装置及び電子部品検査装置を提供する。【解決手段】電子部品搬送装置は、電子部品10に記載された電子部品10の個体識別情報を読み取り可能な個体識別情報読取部17と、個体識別情報を含み、電子部品10を検査する検査部1aに送信する電子部品情報を生成可能で、検査部1aに電子部品情報を送信可能な電子部品情報生成送信部と、電子部品10を検査可能な電子部品検査載置部34を配置可能な電子部品検査載置部配置部と、電子部品10を載置し、電子部品10を電子部品検査載置部配置部に向けて搬送可能な電子部品搬送部36,41と、を有し、検査部1aは、電子部品10を検査した結果と個体識別情報とを合わせて記憶可能である。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
電子部品に記載された前記電子部品の個体識別情報を読み取り可能な個体識別情報読取部と、 前記個体識別情報を含み、前記電子部品を検査する検査部に送信する電子部品情報を生成可能で、前記検査部に前記電子部品情報を送信可能な電子部品情報生成送信部と、 前記電子部品を検査可能な電子部品検査載置部を配置可能な電子部品検査載置部配置部と、 前記電子部品を載置し、前記電子部品を前記電子部品検査載置部配置部に向けて搬送可能な電子部品搬送部と、を有し、 前記検査部は、前記電子部品を検査した結果と前記個体識別情報とを合わせて記憶可能である、電子部品搬送装置。
IPC (1件)：
G01R 31/26
FI (1件)：
G01R31/26 Z
Fターム (5件)：
2G003AA07 ,  2G003AD03 ,  2G003AF02 ,  2G003AG01 ,  2G003AG11
引用特許：
審査官引用 (6件)
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