特許
J-GLOBAL ID：201803006930370120
レベル計及びレベル計測方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
亀谷 美明
, 金本 哲男
, 萩原 康司
, 松本 一騎
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-253392
公開番号（公開出願番号）：特開2015-110817
特許番号：特許第6221708号
出願日： 2013年12月06日
公開日（公表日）： 2015年06月18日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 転炉内のスラグ面のレベルをマイクロ波を用いて計測するレベル計であって、
所定周波数のマイクロ波を射出するマイクロ波射出部と、
前記転炉の内部に向けて前記マイクロ波を照射するとともに、前記スラグ面で反射した前記マイクロ波を受信するアンテナ部と、
前記アンテナ部が受信した前記マイクロ波の反射波を検出する検出部と、
前記マイクロ波射出部にて射出されたマイクロ波と、前記検出部にて検出されたマイクロ波の反射波とに基づいて前記スラグ面のレベルを算出する演算処理部と、
を備え、
前記アンテナ部は、前記アンテナ部から照射された前記マイクロ波が、前記スラグ面で反射し、更に、前記転炉内のランスの側壁で反射して、前記アンテナ部に戻る幾何学的位置関係となるか、又は、前記アンテナ部から照射された前記マイクロ波が、前記転炉内のランスの側壁で反射し、更に、前記スラグ面で反射して、前記アンテナ部に戻る幾何学的位置関係となる擬似コーナーキューブミラーを実現するように、前記ランスの側壁に対して傾斜して配設され、かつ、前記転炉の炉口側に位置する開口部に配設される、レベル計。
IPC (2件)：
C21C 5/46 ( 200 6.01)
, F27D 21/00 ( 200 6.01)
C21C 5/46 B
, F27D 21/00 N
出願人引用 (10件)
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審査官引用 (10件)
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