特許

J-GLOBAL ID：201803008482467250

磁歪計測装置、磁歪計測方法

発明者： 内海 良一 ,  島田 寛 ,  薮上 信 ,  遠藤 恭
出願人/特許権者： 株式会社東栄科学産業
代理人 (1件)： 特許業務法人 ユニアス国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-164416
公開番号（公開出願番号）：特開2018-004654
出願日： 2017年08月29日
公開日（公表日）： 2018年01月11日
要約：

【課題】単純な構造でコンパクトでき且つ均一な歪みを印加可能な応力印加機構を提供する。【解決手段】応力印加機構1は、磁性体を有する板体Wを保持するための本体10と、本体10と板体Wとの間に気密空間SPを形成するための環状のシール部材11と、板体Wをシール部材11へ押圧するための押え機構12と、気密空間SPに流体を出し入れするための導通路13と、を有する。導通路13を介した気密空間SPへの流体の加圧又は減圧によって、磁性体及び板体Wに対して歪みを付与可能に構成されている。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

一定のrをもつ形状をなす治具と、前記治具に貼り付けられた板体の磁性体の磁気共鳴周波数を測定する周波数測定部と、前記rの大きさに応じた磁性体の歪量と前記周波数測定部で測定した磁気共鳴周波数とに基づき磁歪値を算出する磁歪値算出部と、を備える磁歪計測装置。

IPC (1件)：

G01R 33/18

FI (1件)：

G01R33/18

Fターム (5件)：

2G017CA11 ,  2G017CB23 ,  2G017CB24 ,  2G017CC03 ,  2G017CC08