特許
J-GLOBAL ID：201803009185149792
X線コンピュータ断層撮影装置、高電圧発生装置、及び放射線画像診断装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (13件)：
蔵田 昌俊
, 福原 淑弘
, 中村 誠
, 野河 信久
, 峰 隆司
, 河野 直樹
, 砂川 克
, 井関 守三
, 赤穂 隆雄
, 井上 正
, 佐藤 立志
, 岡田 貴志
, 堀内 美保子
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-180471
公開番号（公開出願番号）：特開2014-061287
特許番号：特許第6274394号
出願日： 2013年08月30日
公開日（公表日）： 2014年04月10日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 熱電子を発生する陰極と、前記陰極から発生された熱電子を受けてX線を発生する陽極と、前記陽極を回転軸回りに回転可能に支持する支持機構と、を有するX線管装置と、
前記X線管装置から発生されたX線を検出するX線検出器と、
前記X線管装置を被検体回りに回転可能に支持する回転部と、
前記支持機構に電力を供給する電力供給部と、
前記陽極から発生させるX線の強度を切替えるための切替部と、
前記陽極から発生されるX線の強度の切替を行うために前記切替部を制御し、前記陽極を回転させるために前記電力供給部を制御する部であって、X線の強度の切替周期の略整数倍が前記陽極の回転周期に一致する場合、前記陽極の第1の周回時における熱電子衝突範囲の少なくとも一部分が第2の周回時における熱電子衝突範囲に対してずれるように前記電力供給部を制御する、制御部と、
を具備するX線コンピュータ断層撮影装置。
IPC (3件)：
A61B 6/03 ( 200 6.01)
, H05G 1/36 ( 200 6.01)
, H05G 1/66 ( 200 6.01)
A61B 6/03 320 C
, A61B 6/03 330 C
, H05G 1/36 A
, H05G 1/66 C
