特許
J-GLOBAL ID：201803010270075054
自動特徴解析、比較、及び異常検出
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
杉村 憲司
, 吉澤 雄郎
, 太田 昌宏
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-541991
特許番号：特許第6272892号
出願日： 2013年11月11日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 コンピュータに実装された方法であって、
複数の物理的オブジェクトを記述する複数の物理的特徴を検出するように構成された複数のセンサを備えるセンシング及び解析デバイスを提供するステップと、
前記センシング及び解析デバイスにより、前記複数の物理的特徴に基づいて、前記複数の物理的オブジェクトを表す複数の特徴ベクトルを生成するステップであって、該複数の特徴ベクトルは、前記複数の物理的特徴を記述する複数の成分を含み、該複数の成分の各成分は、数値的範囲を有し、前記複数の物理的特徴の各物理的特徴は、各特徴ベクトル内の少なくとも1つの成分によって表される、該生成するステップと、
前記センシング及び解析デバイスにより、前記各成分の前記数値的範囲を0及び1の間の範囲に変換するステップであって、該変換は、以下の式により実行され、
ここで、F1ijは、オブジェクトith及び特徴成分jthの正規化値であり、OrigFijは、オブジェクトithのオリジナルの特徴成分jthであり、MinFj及びMaxFjは、特徴成分jthの最小値及び最大値であり、それにより得られた、第1の複数の正規化特徴ベクトルは、第1の複数の正規化成分を含み、前記第1の複数の正規化特徴ベクトルの各第1の正規化特徴ベクトルの各物理的特徴のために、全数の成分をさらに含む、該変換するステップと、
前記第1の複数の特徴ベクトルの各第1の正規化特徴ベクトルのために、前記センシング及び解析デバイスにより、各第1の正規化特徴ベクトルの各物理的特徴のための前記複数の正規化成分を、前記第1の正規化特徴ベクトルの各物理的特徴のための前記全数の成分で割るステップであって、それにより第2の複数の正規化特徴ベクトルを得る、該割るステップと、
前記センシング及び解析デバイスにより、前記第2の複数の正規化特徴ベクトルを以下の式により正規化するステップであって、
ここで、F2ijは、前記第2の複数の正規化特徴ベクトルの特徴ベクトルの成分であり、F3ijは、第3の複数の正規化特徴ベクトルの各特徴ベクトルの合成成分である、該正規化するステップと、
前記センシング及び解析デバイスにより、前記第3の複数の正規化特徴ベクトルをクラスタリングするステップであって、それにより、複数のクラスタ正規化特徴ベクトルを得る、該クラスタリングするステップと、
前記センシング及び解析デバイスにより、前記複数のクラスタ正規化特徴ベクトルに主成分解析を適用するステップであって、それにより、距離フラグ値及び第1の評価された複数の正規化特徴ベクトルを得る、該適用するステップと、
前記センシング及び解析デバイスにより、閾値に基づいて、前記複数のクラスタ正規化特徴ベクトルの各特徴ベクトルを数えることにより、数フラグ値を計算するステップであって、それにより、第2の評価された複数の正規化特徴ベクトルを得る、該計算するステップと、
前記センシング及び解析デバイスにより、前記第1又は第2の評価された複数の正規化特徴ベクトルに基づいて、前記複数の物理的オブジェクトを解析するステップと、
を含む、方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
出願人引用 (3件)
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特許第6216066号
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追跡装置および追跡方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願2004-349244
出願人：独立行政法人産業技術総合研究所
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情報処理方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願2005-356537
出願人：ソニー・ユナイテッド・キングダム・リミテッド
引用文献：
出願人引用 (1件)
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Automated Global Feature Analyzer - A Driver for Tier-
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