特許
J-GLOBAL ID:201803010719600329

テスト、検証及びデバッグアーキテクチャのプログラム及び方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 龍華国際特許業務法人
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-226340
公開番号(公開出願番号):特開2017-076412
特許番号:特許第6326705号
出願日: 2016年11月21日
公開日(公表日): 2017年04月20日
請求項(抜粋):
【請求項1】 複数のシリコンコンポーネントと、 前記複数のシリコンコンポーネントのシリコンの、テストのための設計(DFx)機能に対するアクセスを提供し制御する検証制御ユニットと、 ユーザとインターフェースするクライアント層と、 を備え、 前記検証制御ユニットは、 少なくとも複数のハードウェアフックを含むターゲットDFx層と、 ハードウェアDFxの詳細を抽象化すると共にクライアント層への少なくとも1つのアプリケーションプログラミングインターフェース(API)を提供する抽象化層を含むサービス層と、 を有するシステム。
IPC (2件):
G06F 11/36 ( 200 6.01) ,  G06F 15/78 ( 200 6.01)
FI (3件):
G06F 11/36 136 ,  G06F 11/36 156 ,  G06F 15/78 516
引用特許:
出願人引用 (2件)

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