特許
J-GLOBAL ID:201803013655697845
電極体、評価装置及び評価方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
西澤 和純
, 川越 雄一郎
, 伏見 俊介
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-033691
公開番号(公開出願番号):特開2018-142705
出願日: 2018年02月27日
公開日(公表日): 2018年09月13日
要約:
【課題】簡便で迅速に導電性材料の性能を評価することが可能な、電極体、評価装置及び評価方法を提供する。【解決手段】第1のバルブメタルからなる第1の金属層1aを有する第1の電極1と、第2のバルブメタルからなる第2の金属層2aを有する第2の電極2を備えた電極体10であって、第1の金属層1aと第2の金属層2aが互いに離間して対向するように配置されており、第1の金属層1aの第2の金属層2a側の表面には第1の誘電体膜1bを有し、第2の金属層2aの第1の金属層1a側の表面には第2の誘電体膜2bを有する、電極体10。【選択図】図1
請求項(抜粋):
第1のバルブメタルからなる第1の金属層を有する第1の電極と、
第2のバルブメタルからなる第2の金属層を有する第2の電極を備えた電極体であって、前記第1の金属層と前記第2の金属層が互いに離間して対向するように配置されており、前記第1の金属層の前記第2の金属層側の表面には第1の誘電体膜を有し、
前記第2の金属層の前記第1の金属層側の表面には第2の誘電体膜を有する、電極体。
IPC (3件):
H01G 13/00
, H01G 9/00
, H01G 9/052
FI (3件):
H01G13/00 371Z
, H01G9/00 290Z
, H01G9/052 500
Fターム (3件):
5E082AB09
, 5E082MM35
, 5E082MM36
引用特許:
引用文献:
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