特許
J-GLOBAL ID：201803015554981162

リチウムイオン電池の管理方法及び車両の充電制御方法

発明者：
桑原 潤史

桑原 潤史 について

, 
澤 正士

澤 正士 について

, 
佐藤 健児

佐藤 健児 について


出願人/特許権者：
本田技研工業株式会社

本田技研工業株式会社 について


代理人 (3件)： 正林 真之 ,  林 一好 ,  星野 寛明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-196735
公開番号（公開出願番号）：特開2018-060657
出願日： 2016年10月04日
公開日（公表日）： 2018年04月12日
要約：
【課題】リチウムイオン電池の製造過程において混入したコンタミが析出して構成されたデンドライトにより生ずるミクロショートをより少ない電気量で解消することが可能な、リチウムイオン電池の管理方法及び車両の充電制御方法を提供すること。【解決手段】高充電状態時における各セルの電圧を測定して、各セルの電圧のバラツキを算出する高充電状態時算出測定ステップS102と、高充電状態時算出測定ステップの所定時間経過後の低充電状態時における各セルの電圧を測定して、各セルの電圧のバラツキを算出する低充電状態時算出測定ステップS104と、高充電状態時と低充電状態時におけるセルの電圧のバラツキを比較することによりミクロショートの発生を判断するミクロショート発生判断ステップS109と、ミクロショートの発生に応じてミクロショート解消操作を実行するステップS111と、を有するリチウムイオン電池の管理方法である。【選択図】図5
請求項（抜粋）：
正極と負極との間にセパレータが介在し電解液が充填された構造を有するセルが多数積層された構造を有するリチウムイオン電池の管理方法であって、 高充電状態時における各前記セルの電圧を測定して、各前記セルの電圧のバラツキを算出する高充電状態時算出測定ステップと、 高充電状態時算出測定ステップの所定時間経過後の低充電状態時における各前記セルの電圧を測定して、各前記セルの電圧のバラツキを算出する低充電状態時算出測定ステップと、 前記高充電状態時と前記低充電状態時における前記セルの電圧のバラツキを比較することによりミクロショートの発生を判断するミクロショート発生判断ステップと、 ミクロショートの発生に応じてミクロショート解消操作を実行するステップと、を有するリチウムイオン電池の管理方法。
IPC (10件)：
H01M 10/42 ,  H01M 10/052 ,  H01M 10/056 ,  H01M 10/48 ,  H01M 10/46 ,  H01M 10/44 ,  H01M 2/10 ,  H02J 7/00 ,  H02J 7/10 ,  H02J 7/35
FI (11件)：
H01M10/42 P ,  H01M10/052 ,  H01M10/0566 ,  H01M10/48 P ,  H01M10/46 ,  H01M10/44 A ,  H01M2/10 E ,  H01M2/10 S ,  H02J7/00 P ,  H02J7/10 B ,  H02J7/35 B
Fターム (27件)：
5G503AA06 ,  5G503AA07 ,  5G503BA01 ,  5G503BB01 ,  5G503BB02 ,  5G503CA08 ,  5G503CA11 ,  5G503DA08 ,  5G503EA02 ,  5G503EA06 ,  5G503EA09 ,  5G503FA06 ,  5G503GB06 ,  5G503GD03 ,  5G503GD06 ,  5H029AJ12 ,  5H030AA10 ,  5H030AS08 ,  5H030BB07 ,  5H030DD20 ,  5H030FF43 ,  5H040AA18 ,  5H040AS07 ,  5H040AT06 ,  5H040AY06 ,  5H040JJ09 ,  5H040NN05
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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