特許
J-GLOBAL ID:201803017900654770

解析装置、及び解析方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 特許業務法人栄光特許事務所 ,  本多 弘徳 ,  木津 正晴
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-181374
公開番号(公開出願番号):特開2015-049734
特許番号:特許第6259229号
出願日: 2013年09月02日
公開日(公表日): 2015年03月16日
請求項(抜粋):
【請求項1】 ワイヤハーネスの性能を評価する解析装置であって、 モデル化されたワイヤハーネスの一部をなす要素の物性値が要素毎に記憶された第1の記憶部と、 ある要素または要素間の関係を規定する条件に基づく解析手順を表現するプログラムが記録された記録部と、 前記第1の記憶部に記憶された要素毎の物性値、及び前記記録部に記録されたプログラムを参照して、前記ワイヤハーネスの性能を評価する評価値を算出する演算部と、 前記演算部によって算出された評価値と、性能が評価されたワイヤハーネスをモデル化した条件と、が対応付けて記憶される第2の記憶部と、 を備え、 前記演算部は、前記ワイヤハーネスの評価値として、前記ワイヤハーネスの所定の要素と車体パネルの所定の要素との距離を算出する、 ことを特徴とする解析装置。
IPC (1件):
G06F 17/50 ( 200 6.01)
FI (3件):
G06F 17/50 650 Z ,  G06F 17/50 612 H ,  G06F 17/50 628 A
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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